3360-D VLSI測(cè)試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2017-11-14

簡(jiǎn)要描述：

3360-D VLSI測(cè)試系統(tǒng)
主要特色：
?50 MHz 測(cè)試頻率
?32/64 個(gè) I/O 通道
?8M （標(biāo)準(zhǔn)） /16M （選購） Pattern 記憶體
?彈性化硬體結(jié)構(gòu)
?平行測(cè)試 : Z多 8 DUTs

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3360-D VLSI測(cè)試系統(tǒng)

主要特色：

50 MHz 測(cè)試頻率
32/64 個(gè) I/O 通道
8M (標(biāo)準(zhǔn)) /16M (選購) Pattern 記憶體
彈性化硬體結(jié)構(gòu)
平行測(cè)試 : zui多 8 DUTs
Real Parallel Trim/Match 功能
時(shí)序頻率測(cè)試單位 Timing / Frequency measurement unit (TFMU)
測(cè)試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (V7, V50, SC312, J750)
Analog PE card 選配 (16 bits)
SCAN 測(cè)試選配 (512M)
ALPG 測(cè)試選配供記憶體用
STDF 工具支援 (選配)
人性化 Windows XP 操作環(huán)境
CRAFT C/C++ 程式語言
即時(shí)pattern編輯器，含F(xiàn)ail pin/address顯示
多樣化的測(cè)試解析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin, Scope tool, Histogram tool and etc.

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