可程控邏輯腳位模組 Model 36010

主要特色：

• 相容於PXI 3U/混合式PXI匯流排
• Date ratezui高為100MHz
• 8個(gè)per-pin, per-cycle的 I/O雙向控制通道
• 可擴(kuò)充至64 pin
• 32M sequence command 記憶體
• 17種以上的pattern sequence 指令
• Per-pin 控制架構(gòu)
• 每一腳位有 32M vector 記憶體
• 每一腳位有 32 組 clock 及 waveform
• 可快速切換 Waveforms 種類(lèi)
• 可編寫(xiě)的tri-level driver, 解析度達(dá) 610uV
• 每個(gè)模組皆具備高電壓驅(qū)動(dòng)器
• Per-channel PMU
• Per-channel 時(shí)間量測(cè)元件
• 支援 scan pattern 功能
• Windows 2000/XP 作業(yè)系統(tǒng)
• 支援 LabView 與 LabWindows
• 可選購(gòu)專(zhuān)用軟體 CRISP

應(yīng)用範(fàn)圍

• Logic and mixed signal validation and test
• Digital pattern generator and vector capture
• Consumer IC and electronics test
• Logic test subsystem for DC and RF ATE

36010 可程控 100MHz 邏輯腳位模組，可用於特性分析、驗(yàn)證以及數(shù)位 / 混合訊號(hào) IC或電子元件測(cè)試。每個(gè)模組包含一組Sequence Pattern Generator以及8個(gè)I/O雙向控制通道。36010zui多可擴(kuò)充達(dá)64組通道以符合不同用途，此外，基於per-pin的架構(gòu), 每個(gè)通道皆配有32M的vector memory、32組clock、32組waveform與1個(gè) PMU channel，與其他類(lèi)似性能的 ATE 設(shè)備相比， 36010 可提供快速且精確的測(cè)試功能。

Sequence Pattern Generator 
36010 可程控邏輯腳位模組提供17種以上的 sequence 指令，包括 jump、match、 loop、 repeat等，可以控制pattern的執(zhí)行流程。 36010 配有 32M的 sequence command 記憶體，允許每行 vector 擁有獨(dú)立的sequence command 來(lái)控制 pattern的執(zhí)行流程。此外, 每個(gè)Sequence Pattern Generator 可以支援zui多8個(gè)Logic Pin Electronics Cards, 即表示zui多可支援64 個(gè)I/O channels 與8個(gè) DUT同時(shí)測(cè)試。

邏輯腳位模組 
每張邏輯腳位卡皆?huà)?cǎi)用 Chroma® PINF ICs 來(lái)達(dá)到高精準(zhǔn)的timing及彈性化 waveform output 功能。Per-pin timing generator 提供32組clock，包含6個(gè)可編輯的edges。至於 per-pin waveform generator則可提供每組I/O雙向控制通道 32 組可編輯的 waveform，具有快速切換的特性。在 analog的功能中，邏輯腳位模組具有tri-level的 driver 與 comparator，可編寫(xiě)解析度達(dá)610uV， 36010 同時(shí)配有 active load、per-pin PMU 以及高電壓驅(qū)動(dòng)功能。另外，36010 也支援scan pattern 功能，可進(jìn)行掃描測(cè)試。

專(zhuān)用軟體 CRISP(Chroma Integrated Software Platform) 
除了支援 LabView 與 LabWindows 環(huán)境之外, Chroma® 也提供了專(zhuān)用軟體CRISP作為選擇。為了涵蓋各種IC debugging的需求，CRISP包含許多軟體模組，CRISP的作業(yè)平臺(tái)為Microsoft Windows XP®，使用 C++ 作為測(cè)試程式語(yǔ)言，提供使用者簡(jiǎn)易、彈性化以及快速的圖形化介面軟體來(lái)符合各種需求。Project IDE tool 可以讓測(cè)試程式的產(chǎn)生更為簡(jiǎn)單與快速；在 test program debugging 的場(chǎng)合，CR I S P 提供完整的 d e b u g gi n g 軟體工具，包含 Pl an Debugge r、Da t a log、 Waveform、Scope、SHMOO、Pin Margin、 Wafer Map、Summary、Histogram、STDF、Test Condition Monitor、Pattern Editor等完整的工具給使用者。